Apa itu Ujian Integrasi Sistem (SIT) dengan Contoh

Isi kandungan:

Anonim

Apa itu Ujian Integrasi Sistem?

Pengujian Integrasi Sistem didefinisikan sebagai jenis pengujian perisian yang dilakukan dalam persekitaran perkakasan dan perisian bersepadu untuk mengesahkan perilaku sistem yang lengkap. Pengujian dilakukan pada sistem yang lengkap dan bersepadu untuk menilai kepatuhan sistem dengan keperluan yang ditentukan.

Uji Integrasi Sistem (SIT) dilakukan untuk mengesahkan interaksi antara modul sistem perisian. Ini berkaitan dengan pengesahan keperluan perisian tahap tinggi dan rendah yang dinyatakan dalam Spesifikasi / Data Keperluan Perisian dan Dokumen Reka Bentuk Perisian.

Ini juga mengesahkan wujudnya sistem perisian dengan yang lain dan menguji antara muka antara modul aplikasi perisian. Dalam ujian jenis ini, modul pertama kali diuji secara individu dan kemudian digabungkan untuk membuat sistem.

Sebagai contoh, komponen perisian dan / atau perkakasan digabungkan dan diuji secara progresif sehingga keseluruhan sistem telah disatukan.

Dalam tutorial ini, anda akan belajar-

  • Apa itu Ujian Integrasi Sistem?
  • Mengapa Ujian Integrasi Sistem
  • Cara melakukan Ujian Integrasi Sistem
  • Kriteria Masuk dan Keluar untuk Ujian Integrasi
  • Ujian Integrasi Perkakasan ke Perisian
  • Ujian Integrasi Perisian ke Perisian
  • Pendekatan Top-Down
  • Pendekatan ke bawah
  • Pendekatan Big Bang

Mengapa Ujian Integrasi Sistem

Dalam Kejuruteraan Perisian, Pengujian Integrasi Sistem dilakukan kerana,

  • Ia membantu mengesan Kecacatan lebih awal
  • Maklum balas awal mengenai penerimaan modul individu akan tersedia
  • Penjadualan pembetulan kecacatan adalah fleksibel, dan dapat ditindih dengan perkembangan
  • Aliran data yang betul
  • Aliran kawalan yang betul
  • Pemasaan yang betul
  • Penggunaan memori yang betul
  • Betulkan dengan keperluan perisian

Cara melakukan Ujian Integrasi Sistem

Ini adalah teknik sistematik untuk membina struktur program semasa menjalankan ujian untuk mengungkap kesalahan yang berkaitan dengan antara muka.

Semua modul disatukan terlebih dahulu, dan keseluruhan program diuji secara keseluruhan. Tetapi selama proses ini, seperangkat kesalahan mungkin akan dihadapi.

Pembetulan kesilapan itu sukar kerana penyebab pengasingan rumit oleh pengembangan keseluruhan program. Setelah kesalahan ini diperbaiki dan diperbaiki, yang baru akan muncul, dan prosesnya berterusan dengan lancar dalam gelung yang tidak berkesudahan . Untuk mengelakkan situasi ini, pendekatan lain digunakan, Integrasi Tambahan. Kami akan melihat lebih terperinci mengenai pendekatan tambahan kemudian dalam tutorial.

Terdapat beberapa kaedah tambahan seperti ujian integrasi dilakukan pada sistem berdasarkan pemproses sasaran. Metodologi yang digunakan adalah Ujian Kotak Hitam. Sama ada integrasi bawah-atas atau atas-bawah dapat digunakan.

Kes ujian ditakrifkan hanya dengan menggunakan keperluan perisian tahap tinggi sahaja.

Integrasi perisian juga dapat dicapai sebagian besar di lingkungan host, dengan unit khusus untuk lingkungan sasaran terus disimulasikan di host. Ujian berulang di persekitaran sasaran untuk pengesahan sekali lagi diperlukan.

Ujian pengesahan pada tahap ini akan mengenal pasti masalah khusus persekitaran, seperti kesalahan dalam peruntukan memori dan penyaluran. Kepraktisan menjalankan integrasi perisian di persekitaran host akan bergantung pada seberapa banyak fungsi khusus sasaran yang ada. Untuk beberapa sistem yang tertanam, penggabungan dengan lingkungan sasaran akan sangat kuat, sehingga tidak praktikal untuk melakukan integrasi perisian di lingkungan host.

Perkembangan perisian yang besar akan membahagikan integrasi perisian ke dalam beberapa tahap. Tahap integrasi perisian yang lebih rendah dapat didasarkan terutama di lingkungan host, dengan tahap integrasi perisian kemudian menjadi lebih bergantung pada lingkungan sasaran.

Catatan: Sekiranya perisian hanya diuji, maka disebut Uji Integrasi Perisian Perisian [SSIT] dan jika kedua-dua perkakasan dan perisian sedang diuji, maka disebut Uji Integrasi Perisian Perkakasan [HSIT].

Kriteria Masuk dan Keluar untuk Ujian Integrasi

Biasanya semasa melakukan Ujian Integrasi, strategi ETVX (Kriteria Masuk, Tugas, Pengesahan, dan Keluar) digunakan.

Kriteria Kemasukan:

  • Penyelesaian Ujian Unit

Input:

  • Data Keperluan Perisian
  • Dokumen Reka Bentuk Perisian
  • Pelan Pengesahan Perisian
  • Dokumen Integrasi Perisian

Aktiviti:

  • Berdasarkan keperluan peringkat Tinggi dan Rendah membuat kes dan prosedur ujian
  • Gabungkan binaan modul peringkat rendah yang melaksanakan fungsi bersama
  • Kembangkan abah-abah ujian
  • Uji binaan
  • Setelah ujian lulus, binaan digabungkan dengan binaan lain dan diuji sehingga sistem disatukan secara keseluruhan.
  • Laksanakan semula semua ujian pada platform berasaskan pemproses sasaran, dan dapatkan hasilnya

Kriteria Keluar:

  • Berjaya menyelesaikan integrasi modul Perisian pada Perkakasan sasaran
  • Prestasi perisian yang betul mengikut keperluan yang ditentukan

Keluaran

  • Laporan ujian integrasi
  • Kes dan Prosedur Ujian Perisian [SVCP].

Ujian Integrasi Perisian Perkakasan

Pengujian Integrasi Perisian Perkakasan adalah proses pengujian Komponen Perisian Komputer (CSC) untuk fungsi tahap tinggi pada persekitaran perkakasan sasaran. Matlamat pengujian integrasi perkakasan / perisian adalah untuk menguji tingkah laku perisian maju yang disepadukan pada komponen perkakasan.

Ujian Integrasi Perisian-Perisian berdasarkan Keperluan

Tujuan pengujian integrasi perkakasan / perisian berasaskan keperluan adalah untuk memastikan bahawa perisian di komputer sasaran akan memenuhi keperluan tahap tinggi. Kesalahan biasa yang dinyatakan oleh kaedah ujian ini merangkumi:

  • Kesalahan antara muka perkakasan / perisian
  • Pelanggaran pemisahan perisian.
  • Ketidakupayaan untuk mengesan kegagalan dengan ujian terbina dalam
  • Tanggapan yang salah terhadap kegagalan perkakasan
  • Ralat kerana penjujukan, beban input sementara dan kuasa input sementara
  • Maklum balas menunjukkan kelakuan yang tidak betul
  • Kawalan perkakasan pengurusan memori yang salah atau tidak betul
  • Masalah perbalahan bas data
  • Operasi mekanisme yang salah untuk mengesahkan keserasian dan kebenaran perisian yang boleh dimuatkan di lapangan

Integrasi Perisian Perkakasan berurusan dengan pengesahan keperluan tahap tinggi. Semua ujian pada tahap ini dijalankan pada perkakasan sasaran.

  • Ujian kotak hitam adalah metodologi pengujian utama yang digunakan pada tahap pengujian ini.
  • Tentukan kes ujian dari keperluan tahap tinggi sahaja
  • Ujian mesti dijalankan pada perkakasan standard pengeluaran (tepat sasaran)

Perkara yang perlu dipertimbangkan semasa merancang kes ujian untuk Integrasi HW / SW

  • Perolehan semua data dengan betul oleh perisian
  • Penskalaan dan jangkauan data seperti yang diharapkan dari perkakasan ke perisian
  • Output data yang betul dari perisian ke perkakasan
  • Data dalam spesifikasi (julat normal)
  • Data di luar spesifikasi (julat tidak normal)
  • Data sempadan
  • Mengganggu pemprosesan
  • Masa
  • Penggunaan memori yang betul (menangani, tumpang tindih, dll.)
  • Nyatakan peralihan

Catatan: Untuk ujian gangguan, semua gangguan akan disahkan secara bebas dari permintaan awal melalui servis penuh dan selesai. Kes ujian akan dirancang secara khusus untuk menguji gangguan.

Ujian Integrasi Perisian ke Perisian

Ia adalah pengujian Komponen Perisian Komputer yang beroperasi di dalam komputer hos / sasaran

Persekitaran, sambil mensimulasikan keseluruhan sistem [CSC lain], dan pada fungsi tahap tinggi.

Ia memfokuskan pada tingkah laku CSC dalam persekitaran host / sasaran yang disimulasikan. Pendekatan yang digunakan untuk Integrasi Perisian boleh berupa pendekatan bertahap (pendekatan atas-bawah, bawah-atas atau gabungan keduanya).

Pendekatan Tambahan

Ujian tambahan adalah kaedah pengujian integrasi. Dalam kaedah pengujian jenis ini, pertama-tama anda menguji setiap modul perisian secara individu dan kemudian meneruskan pengujian dengan menambahkan modul lain ke dalamnya kemudian yang lain dan seterusnya.

Integrasi tambahan adalah berbeza dengan pendekatan big bang. Program ini dibina dan diuji dalam segmen kecil, di mana kesalahan lebih mudah diasingkan dan dibetulkan. Antaramuka lebih cenderung diuji sepenuhnya, dan pendekatan ujian sistematik mungkin diterapkan.

Terdapat dua jenis ujian tambahan

  • Pendekatan atas ke bawah
  • Pendekatan bawah ke atas

Pendekatan Top-Down

Dalam pendekatan jenis ini, mulakan individu dengan menguji hanya antara muka pengguna, dengan fungsi yang mendasari disimulasikan oleh rintisan, kemudian anda bergerak ke bawah mengintegrasikan lapisan bawah dan bawah seperti yang ditunjukkan pada gambar di bawah.

  • Bermula dengan modul kawalan utama, modul disatukan dengan bergerak ke bawah melalui hierarki kawalan
  • Sub-modul ke modul kawalan utama dimasukkan ke dalam struktur sama ada secara luas atau pertama.
  • Integrasi Depth-first mengintegrasikan semua modul pada jalur kawalan utama struktur seperti yang ditunjukkan dalam rajah berikut:

Proses integrasi modul dilakukan dengan cara berikut:

  1. Modul kawalan utama digunakan sebagai penguji ujian, dan rintisan diganti untuk semua modul yang langsung tunduk pada modul kawalan utama.
  2. Rintisan bawahan diganti satu per satu dengan modul sebenar bergantung pada pendekatan yang dipilih (lebar pertama atau kedalaman pertama).
  3. Ujian dijalankan kerana setiap modul disatukan.
  4. Setelah menyelesaikan setiap set ujian, rintisan lain diganti dengan modul sebenar setelah menyelesaikan setiap set ujian
  5. Untuk memastikan bahawa kesalahan baru belum diperkenalkan Regression Testing dapat dilakukan.

Proses ini berterusan dari langkah 2 sehingga keseluruhan struktur program dibina. Strategi top-down terdengar agak tidak rumit, tetapi dalam praktiknya, masalah logistik timbul.

Masalah yang paling biasa berlaku apabila pemprosesan pada tahap rendah dalam hierarki diperlukan untuk menguji tahap atas dengan secukupnya.

Stub menggantikan modul peringkat rendah pada awal ujian top-down dan, oleh itu tidak ada data yang signifikan yang dapat mengalir ke atas dalam struktur program.

Cabaran yang mungkin dihadapi oleh Penguji:

  • Menunda banyak ujian sehingga stub diganti dengan modul sebenar.
  • Kembangkan stub yang menjalankan fungsi terhad yang mensimulasikan modul sebenar.
  • Gabungkan perisian dari bahagian bawah hierarki ke atas.

Catatan: Pendekatan pertama menyebabkan kita kehilangan kawalan terhadap korespondensi antara ujian tertentu dan penggabungan modul tertentu. Ini boleh menyebabkan kesukaran untuk menentukan penyebab kesilapan yang cenderung melanggar sifat pendekatan atas-bawah yang sangat terkendali.

Pendekatan kedua dapat dilaksanakan tetapi dapat menyebabkan overhead yang signifikan, kerana rintisan menjadi semakin kompleks.

Pendekatan ke bawah

Integrasi ke bawah memulakan pembinaan dan pengujian dengan modul pada tahap paling rendah dalam struktur program. Dalam proses ini, modul disatukan dari bawah ke atas.

Dalam pendekatan ini proses yang diperlukan untuk modul bawahan ke tahap tertentu selalu tersedia dan keperluan untuk rintangan dihilangkan.

Proses ujian integrasi ini dilakukan dalam rangkaian empat langkah

  1. Modul tahap rendah digabungkan menjadi kelompok yang melakukan sub-fungsi perisian tertentu.
  2. Pemacu ditulis untuk menyelaraskan input dan output kes ujian.
  3. Kluster atau binaan diuji.
  4. Pemacu dikeluarkan, dan kelompok digabungkan bergerak ke atas dalam struktur program.

Ketika integrasi bergerak ke atas, perlunya pelajaran pemacu ujian berasingan. Sebenarnya, jika dua tahap struktur program terintegrasi dari atas ke bawah, jumlah pemacu dapat dikurangkan dengan banyak, dan penyatuan kluster sangat dipermudah. Integrasi mengikut corak yang digambarkan di bawah. Ketika integrasi bergerak ke atas, perlunya pelajaran pemacu ujian berasingan.

Catatan: Sekiranya dua tahap struktur program terintegrasi Top-down, bilangan pemacu dapat dikurangkan dengan ketara, dan penyatuan binaan dipermudahkan.

Pendekatan Big Bang

Dalam pendekatan ini, semua modul tidak disatukan sehingga dan melainkan jika semua modul sudah siap. Setelah siap, semua modul disatukan dan kemudian dilaksanakan untuk mengetahui sama ada semua modul bersepadu berfungsi atau tidak.

Dalam pendekatan ini, sukar untuk mengetahui punca kegagalan kerana mengintegrasikan semuanya sekaligus.

Juga, kemungkinan besar terdapat pepijat kritis di persekitaran pengeluaran.

Pendekatan ini hanya diambil apabila pengujian integrasi harus dilakukan sekaligus.

Ringkasan:

  • Integrasi dilakukan untuk mengesahkan interaksi antara modul sistem perisian. Ia membantu mengesan kecacatan lebih awal
  • Ujian integrasi boleh dilakukan untuk Integrasi Perkakasan-Perisian atau Perkakasan-Perkakasan
  • Ujian integrasi dilakukan dengan dua kaedah
    • Pendekatan tambahan
    • Pendekatan big bang
  • Semasa melakukan Pengujian Integrasi umumnya strategi ETVX (Kriteria Masuk, Tugas, Pengesahan, dan Keluar) digunakan.